未满能级检测通常用于半导体材料和器件的研究和分析。

光致发光谱（PL）测试：通过测量材料在光激发下的发光强度和波长分布，来研究材料的能带结构和发光特性。

深能级瞬态谱（DLTS）测试：用于检测半导体材料中的深能级缺陷，提供有关缺陷能级、浓度和俘获截面等信息。

电容-电压（C-V）测试：测量半导体器件的电容随电压的变化，可用于分析掺杂浓度、界面态密度等。

电流-电压（I-V）测试：测量半导体器件的电流随电压的变化，用于评估器件的电学性能和缺陷特性。

霍尔效应测试：通过测量霍尔电压来确定半导体材料的载流子类型、浓度和迁移率。

热激电流（TSC）测试：测量材料在热激发下产生的电流，可用于研究陷阱能级和载流子输运。

低温光致发光（LPL）测试：在低温下进行光致发光谱测量，以更精确地研究材料的能带结构和缺陷特性。

时间分辨光致发光（TRPL）测试：测量光激发后发光强度随时间的衰减，用于研究载流子的寿命和复合过程。

拉曼光谱测试：通过测量散射光的频率变化来研究材料的晶格振动和结构特性。

电子顺磁共振（EPR）测试：检测材料中的未成对电子，用于研究缺陷和杂质的电子结构。

光电子能谱（XPS）测试：分析材料表面的化学成分和电子结构。

俄歇电子能谱（AES）测试：提供材料表面的元素组成和化学状态信息。

二次离子质谱（SIMS）测试：用于检测材料表面和内部的元素分布和杂质含量。

扫描电子显微镜（SEM）测试：观察材料的表面形貌和微观结构。

透射电子显微镜（TEM）测试：提供更高分辨率的微观结构信息，包括晶格结构和缺陷。

原子力显微镜（AFM）测试：测量材料表面的形貌和力学性质。

电学输运测试：包括电阻、电导、霍尔效应等测试，用于研究材料的电学性能和载流子输运特性。

光学吸收谱测试：测量材料对不同波长光的吸收，用于分析能带结构和光学性质。

荧光寿命测试：确定荧光物质的寿命，与材料的能量转移和电子转移过程相关。

量子效率测试：测量材料的光发射效率，对于发光器件的性能评估很重要。

磁场依赖测试：研究材料在磁场下的电学和光学性质变化，如磁电阻、磁光效应等。

温度依赖测试：考察材料在不同温度下的性能变化，包括电学、光学和热学性质。

压力依赖测试：研究材料在压力作用下的结构和性能变化。

应力依赖测试：分析材料在应力条件下的电学和光学性质变化。

极化依赖测试：研究材料的光学和电学性质对极化方向的依赖性。

电荷输运测试：包括电荷迁移率、载流子浓度等测试，用于了解电荷在材料中的传输行为。

界面特性测试：研究半导体材料与其他材料（如金属、绝缘体）之间的界面性质。

量子点特性测试：针对量子点材料，进行尺寸、发光波长、量子效率等特性的测试。

纳米结构特性测试：对纳米级半导体结构进行形貌、尺寸、电学和光学性质的测试。