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微观试样检测项目

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文章概述:微观试样检测是一种用于研究材料微观结构和性能的测试方法。它可以提供有关材料的晶体结构、相组成、微观缺陷、化学成分等信息。扫描电子显微镜(SEM)分析:通过电子束扫描样品

微观试样检测是一种用于研究材料微观结构和性能的测试方法。它可以提供有关材料的晶体结构、相组成、微观缺陷、化学成分等信息。

扫描电子显微镜(SEM)分析:通过电子束扫描样品表面,获取高分辨率的图像,用于观察微观结构和表面形貌。

透射电子显微镜(TEM)分析:使用电子束穿透样品,获得微观结构的高分辨率图像,可用于研究晶体结构、缺陷等。

原子力显微镜(AFM)分析:通过测量探针与样品表面之间的相互作用力,获得表面形貌和纳米级别的结构信息。

X 射线衍射(XRD)分析:利用 X 射线衍射图谱确定材料的晶体结构和相组成。

能量色散 X 射线谱(EDS)分析:与 SEM 或 TEM 结合使用,用于分析样品的化学成分。

电子探针微分析(EPMA):可进行元素分析和微观区域的成分测绘。

傅里叶变换红外光谱(FTIR)分析:用于确定样品中的化学键和官能团。

拉曼光谱分析:提供有关分子振动和结构的信息。

热分析:如差示扫描量热法(DSC)或热重分析(TGA),用于研究材料的热性能和相变。

硬度测试:如纳米压痕测试,测量微观区域的硬度。

弹性模量测试:通过微观力学测试方法确定材料的弹性性能。

微观结构观察:使用光学显微镜或电子显微镜观察样品的微观结构特征。

相分析:确定材料中的相组成和相分布。

缺陷分析:检测和分析微观缺陷,如裂纹、位错等。

界面分析:研究材料界面的结构和性能。

纳米材料分析:针对纳米级别的材料进行结构和性能研究。

薄膜分析:用于薄膜材料的厚度、成分和结构分析。

颗粒分析:确定颗粒的大小、形状和分布。

纤维分析:研究纤维的结构和性能。

复合材料分析:分析复合材料中各组分的分布和界面结合情况。

腐蚀分析:检测和分析材料的腐蚀行为和机制。

疲劳分析:评估材料在循环载荷下的疲劳性能。

磨损分析:研究材料的磨损特性和机制。

失效分析:确定材料失效的原因和机制。

质量控制分析:在生产过程中进行微观试样检测,确保产品质量。

研发分析:支持材料研发和改进过程中的微观结构研究。

环境分析:分析材料在特定环境条件下的微观结构变化。

微观试样检测项目
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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