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杂质粉粒检测方法

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文章概述:1. 目测法:对样品进行目测,观察有无杂质粉粒的存在。
2. 透光法:将样品放置在透光板上,通过光线的透过程观察样品中是否有杂质粉粒。
3. 筛网分析法:将样品通过不同孔径的筛网筛

1. 目测法:对样品进行目测,观察有无杂质粉粒的存在。

2. 透光法:将样品放置在透光板上,通过光线的透过程观察样品中是否有杂质粉粒。

3. 筛网分析法:将样品通过不同孔径的筛网筛分,然后观察每个孔径筛网上的残留物,判断是否有杂质粉粒。

4. 图像分析法:利用专业的图像分析仪器,对样品进行拍照或取得图像,通过软件分析图像中是否有杂质粉粒出现。

杂质粉粒检测方法
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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