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凸起程度检测仪器

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文章概述:三坐标测量机:可用于测量物体的三维坐标和形状,精度高,适用于高精度的凸起程度检测。
激光位移传感器:通过激光测量物体表面的位移,可快速、准确地检测凸起程度。
光学显微镜:用于

三坐标测量机:可用于测量物体的三维坐标和形状,精度高,适用于高精度的凸起程度检测。

激光位移传感器:通过激光测量物体表面的位移,可快速、准确地检测凸起程度。

光学显微镜:用于观察物体表面的微观结构,可对凸起程度进行定性分析。

轮廓仪:可测量物体表面的轮廓形状,包括凸起程度。

千分表:用于测量物体的微小位移,可对凸起程度进行定量检测。

凸起程度检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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