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透射厚仪检测仪器

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文章概述:测厚仪:用于测量材料的厚度,如金属、塑料、纸张等。
超声波测厚仪:通过超声波在材料中的传播速度来测量厚度。
X 射线测厚仪:利用 X 射线的穿透能力来测量材料的厚度。
激光测厚

测厚仪:用于测量材料的厚度,如金属、塑料、纸张等。

超声波测厚仪:通过超声波在材料中的传播速度来测量厚度。

X 射线测厚仪:利用 X 射线的穿透能力来测量材料的厚度。

激光测厚仪:通过激光束的反射来测量厚度。

电容式测厚仪:基于电容原理测量材料的厚度。

透射厚仪检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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