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透射电子像检测方法

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文章概述:衍射衬度像检测:用于观察晶体结构和缺陷。
高分辨像检测:可获得原子尺度的结构信息。
Z 衬度像检测:适用于观察轻元素和原子序数差异较小的样品。
能量过滤像检测:用于分析元素

衍射衬度像检测:用于观察晶体结构和缺陷。

高分辨像检测:可获得原子尺度的结构信息。

Z 衬度像检测:适用于观察轻元素和原子序数差异较小的样品。

能量过滤像检测:用于分析元素分布和化学键。

电子能量损失谱(EELS)检测:提供元素组成和化学状态信息。

会聚束电子衍射(CBED)检测:可确定晶体对称性和晶体取向。

透射电子像检测方法
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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