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头尾相接检测仪器

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文章概述:显微镜:用于观察和检测物体的微观结构和形态,可检测到微米级别的细节。
X 射线检测仪:利用 X 射线穿透物体的特性,检测物体内部的结构和缺陷,可检测到毫米级别的缺陷。
超声波检

显微镜:用于观察和检测物体的微观结构和形态,可检测到微米级别的细节。

X 射线检测仪:利用 X 射线穿透物体的特性,检测物体内部的结构和缺陷,可检测到毫米级别的缺陷。

超声波检测仪:通过发射超声波并接收反射波,检测物体内部的结构和缺陷,可检测到毫米级别的缺陷。

激光扫描仪:利用激光扫描物体表面,获取物体的三维形状和尺寸信息,可检测到微米级别的精度。

三坐标测量仪:通过测量物体表面的点坐标,获取物体的三维形状和尺寸信息,可检测到微米级别的精度。

头尾相接检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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