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铜损检测方法

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文章概述:电桥法:通过测量绕组的电阻来计算铜损。
短路试验法:将绕组短路,测量短路电流和输入功率,从而计算铜损。
热像仪法:利用热像仪检测绕组的温度分布,间接评估铜损。
功率分析仪法:直

电桥法:通过测量绕组的电阻来计算铜损。

短路试验法:将绕组短路,测量短路电流和输入功率,从而计算铜损。

热像仪法:利用热像仪检测绕组的温度分布,间接评估铜损。

功率分析仪法:直接测量输入功率和输出功率,计算铜损。

铜损检测方法
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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