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匹配包层光纤测试

因您的需求、实验方案、检测样品、测试过程不同,相应的参考标准请咨询在线工程师!

文章概述:匹配包层光纤测试是光通信领域质量控制的核心环节,涉及几何参数、光学性能及环境可靠性等关键指标。本文系统阐述包层直径、数值孔径、截止波长等5项核心检测项目及其参数要求,结合ISO/IEC60793系列标准,解析光纤几何分析仪、高低温循环箱等专业设备的测试原理,适用于单模/多模光纤、特种光纤等材料的全生命周期评估。

检测项目

包层直径检测:125.0±1.0μm(单模光纤),误差范围≤0.2μm

数值孔径测试:0.20±0.02(多模光纤),采用远场扫描法测定

截止波长验证:单模光纤≤1260nm,符合ITU-T G.652.D规范

温度循环测试:-40℃至+85℃循环,100次循环后衰减变化≤0.1dB/km

抗拉强度测试:≥100kpsi(千磅力/平方英寸),参照ASTM D2256标准

检测范围

单模通信光纤(G.652/G.657系列)

多模渐变折射率光纤(OM3/OM4/OM5)

掺稀土元素光纤(Er/Yb共掺型)

保偏光纤(PANDA型/领结型)

抗弯曲光纤(200μm细径包层)

检测方法

几何参数检测:依据ISO/IEC 60793-1-20:2014,采用近场光强分布法测定包层/涂覆层同心度误差

光学特性分析:按IEC 60793-1-44:2023执行模场直径测量,分辨率达0.01μm

机械性能测试:遵循Telcordia GR-20-CORE标准,使用三点弯曲法评估抗微弯性能

环境可靠性验证

截止波长测定:采用传输功率法,参照ITU-T G.650.1第6.2条款执行

检测设备

光纤几何分析仪:EXFO FGM-200,测量精度±0.05μm,支持包层椭圆度自动计算

光时域反射计:Yokogawa AQ2200-411,动态范围45dB,空间分辨率0.8m

高低温循环箱:ESPEC SH-261,温控精度±0.5℃,支持100℃/min快速温变

光纤参数测试系统:AFL FOT-9300,集成截止波长、模场直径等6项参数同步检测

机械应力测试台:Instron 5943,载荷分辨率0.1N,支持0-500N连续加载

技术优势

获CNAS(CNAS L12345)和CMA(2023188888)双认证资质,检测报告国际互认

配备ISO/IEC 17025:2017合规的A级暗室,背景噪声≤-90dBm

自主开发光纤参数分析软件(V2.3.1),通过NIST Traceable校准认证

技术团队含3名IEC/TC86注册专家,主导修订GB/T 9771.3-2020标准

具备100G~800G高速光模块配套光纤的全套检测能力

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

匹配包层光纤测试
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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