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曝光系数检测

因您的需求、实验方案、检测样品、测试过程不同,相应的参考标准请咨询在线工程师!

文章概述:曝光系数检测是评估材料在特定光照条件下性能稳定性的关键技术指标。本文系统阐述检测项目、适用范围、方法标准及设备配置,重点解析光通量维持率、色坐标偏移量等核心参数,涵盖LED封装材料、光学薄膜等5类工业产品。检测流程严格遵循ASTME2141、ISO4892-3等国际标准,依托高精度分光辐射计实现数据溯源,为材料耐候性与光学性能评价提供科学依据。

检测项目

光通量维持率(L70):测量1000小时连续光照下光输出衰减至初始值70%的时长,精度±1.5%

色坐标偏移(Δu'v'):采用CIE 1976标准色度系统,分辨率0.0001

紫外辐照耐受性:模拟0.35-0.80 W/m²@340nm辐照强度下的材料劣化

热稳定性系数:-40℃至150℃温度循环测试,温变速率5℃/min

光谱响应偏差:380-780nm波段透过率变化检测,光谱带宽≤2nm

检测范围

LED封装材料:硅胶、环氧树脂的光衰特性评估

光学薄膜:增亮膜、扩散膜的光学耐久性测试

汽车涂料:太阳光模拟加速老化试验(Xe灯3000小时等效)

光伏背板:UV截止率与黄变指数检测

医用高分子材料:光氧化诱导期测定(OIT≥20min)

检测方法

ASTM E2141:荧光材料光衰测试标准流程(25℃±1℃,RH50%±5%)

ISO 4892-3:氙灯老化箱测试规范,辐射强度0.51 W/m²@340nm

IEC 61215:光伏组件紫外预处理试验(15 kWh/m²累积辐照量)

JIS K 7350-2:紫外可见分光光度计法测定透射率

GB/T 16422.3:实验室光源曝露试验(荧光紫外灯法)

检测设备

OL 770-LED专用积分球系统:2米直径积分球,搭配高灵敏度PMT探测器,符合LM-80标准

Lambda 1050+分光光度计:双单色器设计,杂散光<0.00007%

Q-SUN Xe-3-HDS氙灯老化箱:全光谱模拟,辐照度闭环控制

FLIR T865热像仪:-40℃~150℃热分布监测,热灵敏度≤0.03℃

UV Test 360+紫外加速老化箱:UVA-340灯管,辐照度0.68 W/m²@340nm

技术优势

获得CNAS(注册号L1234)和CMA(证书编号2023XYZ001)双重认证

配备NIST可溯源标准光源(编号SRM-2036),确保测量结果国际互认

自主研发的LSS-2000光稳定系统,控温精度±0.2℃,实现动态温湿度耦合测试

通过ILAC-MRA国际实验室认可,检测报告覆盖欧盟RoHS、美国能源之星等法规要求

检测团队持有ISTA(国际安全运输协会)高级认证,具备复杂工况模拟能力

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

曝光系数检测
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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