检测项目

几何尺寸偏差：测量范围±50mm，精度±0.01mm

形状误差：平面度≤0.05mm/m，圆度误差≤0.02mm

表面缺陷识别：最小缺陷分辨率0.005mm²

装配间隙检测：检测范围0.01-5mm，重复性误差±1μm

投影对比度分析：灰度级差≥200，动态范围16bit

检测范围

金属材料：铝合金、钛合金等精密加工件

塑料制品：注塑成型件、薄膜材料

电子元件：PCB板、微型连接器

光学元件：透镜、棱镜曲率半径

医疗器械：植入物表面光洁度、导管内径

检测方法

ASTM E2934-13：光学投影系统几何特性校准标准

ISO 12181-1：圆柱度误差评定方法

GB/T 1182-2018：产品几何技术规范（GPS）形状公差

ISO 10360-7：坐标测量机（CMM）与光学系统比对验证

GB/T 26193-2010：工业用投影仪检测通则

检测设备

Mitutoyo QV-4040：高精度光学投影仪，分辨率0.1μm，最大测量直径400mm

Keyence VHX-7000：4K数字显微镜，支持3D形貌重建

Hexagon Optiv Classic 322：多传感器测量系统，集成CCD与激光扫描

Olympus STM7：工业显微镜，配备20-1000倍变焦镜头

ZEISS O-INSPECT 322：复合式影像测量机，XYZ轴精度1.8+L/350μm

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。