检测项目

1. 反射率绝对测量：250-2500nm波段内±0.5%精度

2. 波长依赖性测试：步长1nm连续扫描

3. 入射角响应分析：5°-85°连续可调

4. 偏振态敏感性评估：s/p偏振分离测量

5. 温度稳定性测试：-40℃至+150℃环境模拟

检测范围

1. 光学镀膜材料：包括AR膜、高反膜、分光膜等

2. 激光晶体元件：YAG晶体、KTP晶体等非线性光学材料

3. 光纤通信器件：WDM滤波器、光隔离器端面

4. 半导体晶圆：硅基/化合物半导体表面处理层

5. 航天热控涂层：二次表面镜、OSR组件

检测方法

ASTM E903-2020 材料太阳吸收比与反射比测试标准

ISO 13696:2002 激光光学元件反射率测量规程

GB/T 26313-2010 光学薄膜光谱特性测试方法

GB/T 31370.2-2015 平板显示器光学性能测量第2部分：反射特性

IEC 61746-2005 光时域反射计校准规范

检测设备

1. Agilent Cary 7000全能型分光光度计：支持0°-60°变角反射附件

2. PerkinElmer Lambda 1050+双光束系统：配备150mm积分球模块

3. Newport Oriel IQE-200量子效率测试系统：覆盖300-1800nm光谱

4. Thorlabs PAX1000偏振分析仪：支持780-1650nm波长范围

5. Ophir PD300-3W高功率激光功率计：最大承受3W连续激光

6. Bruker Vertex 80v真空型傅里叶红外光谱仪：远红外波段反射测量

7. Shimadzu ISR-2600积分球模块：150mm内径镀金球体设计

8. Keysight N5227A PNA网络分析仪：毫米波频段反射系数测量

9. Ocean Insight HDX-VIS-NIR光谱仪：190-1100nm快速采集系统

10. Thermo Scientific Evolution 220双样品仓系统：同步参比测量功能

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。