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单分散二氧化硅微球检测

因您的需求、实验方案、检测样品、测试过程不同,相应的参考标准请咨询在线工程师!

文章概述:单分散二氧化硅微球的性能直接影响其在生物医药、光学涂层及色谱分离等领域的应用效果。本文系统阐述其核心检测项目与方法,涵盖粒径分布、形貌特征、表面性质等关键参数分析,结合ASTM、ISO及GB/T标准体系,为质量控制提供科学依据。

检测项目

1.粒径分布:D10/D50/D90值测定(范围50nm-20μm),多分散指数(PDI)≤0.08

2.球形度分析:圆度偏差≤3%,椭圆率<1.05

3.比表面积:BET法测试(0.5-500m²/g),孔径分布2-100nm

4.Zeta电位:pH3-11范围内测定(±50mV),稳定性评估

5.化学纯度:SiO₂含量≥99.9%,金属杂质(Fe、Al等)≤50ppm

检测范围

1.色谱填料用二氧化硅微球(3μm/5μm/10μm规格)

2.光学涂层改性微球(表面氨基/羧基修饰型)

3.生物医学载体微球(荧光标记/磁响应功能化)

4.电子封装用高纯球形二氧化硅粉体

5.催化载体多孔微球(介孔/大孔复合结构)

检测方法

1.ISO13320-1:2020激光衍射法测定粒径分布

2.ASTME2859-11扫描电镜图像分析法评估球形度

3.GB/T19587-2017气体吸附法测定比表面积及孔径

4.ISO13099-3:2014电泳光散射法测量Zeta电位

5.GB/T30414-2013电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)分析元素杂质

检测设备

1.MalvernMastersizer3000激光粒度分析仪(0.01-3500μm测量范围)

2.HitachiSU8220场发射扫描电镜(分辨率0.8nm@15kV)

3.MicromeriticsASAP2460比表面及孔隙度分析仪(0.35-500nm孔径分析)

4.MalvernZetasizerNanoZSP电位分析仪(pH2-12适用)

5.ThermoScientificiCAPRQICP-MS(检出限<ppt级)

6.BrukerD8AdvanceX射线衍射仪(晶型结构分析)

7.NetzschSTA449F3同步热分析仪(纯度与热稳定性测试)

8.KeyenceVHX-7000数字显微镜(三维形貌重建)

9.Agilent1260InfinityII液相色谱系统(色谱柱装填性能验证)

10.HoribaLB-550动态光散射仪(纳米级微球复测)

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

单分散二氧化硅微球检测
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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