检测项目

1. 淀积层厚度均匀性：测量区域厚度极差≤5μm（精度±0.1μm）

2. 元素分布偏析度：特征元素浓度梯度变化率≤15%/mm

3. 表面粗糙度：Ra值≤0.8μm（按ISO 4287标准评定）

4. 结合强度：临界载荷≥50N（划痕法测试）

5. 孔隙率缺陷密度：单位面积孔隙数≤20个/cm²（500倍显微镜观测）

检测范围

1. 金属镀层：包括铝合金阳极氧化层、铜合金电镀层等

2. 半导体薄膜：硅基氮化镓外延层、ITO透明导电膜等

3. 陶瓷涂层：热障涂层(TBC)、类金刚石碳膜(DLC)

4. 高分子复合材料：PTFE喷涂膜层、环氧树脂防护涂层

5. 功能性镀膜：光学增透膜、磁控溅射硬质涂层

检测方法

1. ASTM B748-90(2021)：X射线荧光法测定镀层厚度

2. ISO 1463:2021：金相截面显微测量法

3. GB/T 17722-2020：能量色散谱仪(EDS)元素面分布分析

4. ASTM C1624-05(2020)：划痕法结合强度测试规程

5. GB/T 3505-2020：表面粗糙度激光共聚焦测量规范

检测设备

1. 蔡司Sigma 500场发射扫描电镜：实现5nm分辨率形貌观测

2. 牛津X-Max 50能谱仪：元素面分布分析精度±0.1wt%

3. Bruker DektakXT台阶仪：0.1Å垂直分辨率厚度测量

4. CSM Revetest划痕测试仪：最大载荷200N可控加载系统

5. Keyence VK-X3000激光共聚焦显微镜：0.001μm粗糙度解析能力

6. Rigaku ZSX Primus IV X射线荧光光谱仪：多元素同步分析系统

7. Instron 5967万能材料试验机：符合ASTM D4541附着力测试标准

8. Thermo Scientific Nicolet iS50傅里叶红外光谱仪：有机成分定性分析

9. Malvern Panalytical Empyrean X射线衍射仪：晶体结构表征系统

10. Agilent 5500原子力显微镜：三维纳米级表面拓扑成像

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。