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纯铑粉检测

因您的需求、实验方案、检测样品、测试过程不同,相应的参考标准请咨询在线工程师!

文章概述:纯铑粉检测是贵金属材料质量控制的核心环节,需通过化学成分分析、物理性能测试及微观结构表征确保其符合工业应用标准。关键检测项目包括纯度测定、杂质元素含量分析、粒度分布测试等,严格遵循ASTM、ISO及GB/T等国际与国家标准,保障数据准确性和可追溯性。

检测项目

1. 纯度测定:采用电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)测定铑含量≥99.95%,误差范围±0.02%

2. 杂质元素分析:涵盖铂(Pt)、钯(Pd)、铁(Fe)等14种元素,单元素限值≤50ppm

3. 粒度分布测试:激光衍射法测定D50值范围0.5-50μm,跨度系数≤1.5

4. 比表面积测定:BET氮吸附法测量范围0.01-2000m²/g

5. 松装密度测试:霍尔流速计法测定值≥3.2g/cm³

检测范围

1. 化工催化剂用高纯铑粉(Rh≥99.99%)

2. 铂铑合金原料粉末(Rh10%-30%)

3. 电子元器件镀层用纳米铑粉(粒径≤100nm)

4. 贵金属回收提纯中间产物

5. 核工业用放射性屏蔽材料

检测方法

1. ASTM E1479-16《贵金属化学分析标准指南》

2. ISO 11876:2010《硬质合金用金属粉末中杂质元素的测定》

3. GB/T 18043-2020《首饰贵金属含量的测定X射线荧光光谱法》

4. GB/T 19077-2016《粒度分布激光衍射法》

5. ISO 9277:2010《气体吸附法测定比表面积》

检测设备

1. Thermo Fisher iCAP 7400 ICP-OES:多元素同步分析系统

2. Malvern Mastersizer 3000激光粒度仪:测量范围10nm-3.5mm

3. Micromeritics ASAP 2460比表面分析仪:孔径测量精度±0.1nm

4. Shimadzu EDX-7000 X射线荧光光谱仪:元素分析范围Be-U

5. Mettler Toledo XP205电子天平:分辨率0.01mg

6. Agilent 7900 ICP-MS:检出限达ppt级

7. Quantachrome Autotap振实密度仪:振动频率250次/分钟

8. Hitachi SU5000场发射电镜:分辨率1nm@15kV

9. Bruker D8 ADVANCE X射线衍射仪:角度精度±0.0001°

10. Netzsch STA 449F3同步热分析仪:温度范围RT-1650℃

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

纯铑粉检测
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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