检测项目

1. 临界温度（Tc）测定：测量超导转变温度范围10K-150K，精度±0.05K

2. 临界电流密度（Jc）测试：4.2K低温环境下测量0-30T磁场强度下的载流能力

3. 磁化率分析：采用零场冷却（ZFC）与场冷却（FC）模式测量1Oe-7T磁场响应

4. 微观结构表征：晶粒尺寸分布（10nm-50μm）、相纯度（XRD半峰宽≤0.1°）及界面结合状态

5. 化学成分分析：元素含量偏差≤0.5at%，氧空位浓度检测精度±0.02%

检测范围

1. 铜氧化物高温超导体（如YBCO、BSCCO体系）

2. 铁基超导材料（如SmFeAsO1-xFx薄膜）

3. 有机-无机杂化超导体（含C60衍生物复合材料）

4. 纳米复合超导体（MgB2/Al2O3弥散强化体系）

5. 二硼化镁（MgB2）线材与带材

检测方法

1. ASTM B923-21《超导材料临界电流密度标准测试方法》

2. ISO 14544:2018《低温环境下电磁特性测量规范》

3. GB/T 13811-2019《超导材料磁化率测试方法》

4. ASTM E112-13《平均晶粒度测定标准》

5. GB/T 20124-2019《金属材料氧氮氢分析通则》

检测设备

1. Quantum Design PPMS DynaCool：实现1.9K-400K温区直流磁化率与电阻率测量

2. Oxford Instruments TeslatronPT：配备12T超导磁体的磁输运特性测试系统

3. FEI Quanta FEG 650扫描电镜：配备EDAX EDS的纳米级成分分析模块

4. Bruker D8 ADVANCE X射线衍射仪：Cu靶Kα辐射源（λ=1.5406Å），角度分辨率0.0001°

5. Lake Shore 8400系列霍尔效应测试系统：支持10nΩ-100MΩ电阻测量范围

6. Netzsch LFA 467 HyperFlash：激光闪射法导热系数测定（-120°C~2800°C）

7. Agilent 720ES电感耦合等离子体发射光谱仪：检出限达ppb级元素分析

8. Janis Research ST-500低温恒温器：配合Keithley 2450源表进行四探针法电阻测试

9. Malvern Panalytical Empyrean X射线衍射仪：小角散射模式分析纳米级相分布

10. Oxford Instruments AztecEnergy X-MaxN EDS系统：面分布分析精度±0.1wt%

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。