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金纳米三角片溶液检测

因您的需求、实验方案、检测样品、测试过程不同,相应的参考标准请咨询在线工程师!

文章概述:金纳米三角片溶液检测需通过多维度参数分析确保其理化性质及稳定性符合应用要求。核心检测项目包括粒径分布、形貌表征、光学特性、浓度测定及杂质含量分析。本文依据ASTM、ISO及GB/T标准体系,系统阐述检测方法、设备选型及适用范围,为纳米材料质量控制提供技术支撑。

检测项目

1. 粒径分布:采用动态光散射法(DLS)测量流体力学直径(20-150nm),多分散指数(PDI)≤0.3

2. 形貌表征:透射电镜(TEM)观测三角片边长(30-100nm)、厚度(5-15nm)、顶点曲率半径<5nm

3. 表面等离子共振峰:紫外-可见分光光度计测定LSPR特征峰(550-1200nm),半峰宽≤80nm

4. 质量浓度:电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)定量Au元素含量(10-500μg/mL),RSD<2%

5. 杂质含量:离子色谱法测定Cl⁻/NO³⁻残留量(<50ppm),XPS分析表面CTAC包覆率≥90%

检测范围

1. 生物传感器用金纳米三角片溶液:适用于表面增强拉曼基底制备

2. 光热治疗试剂:近红外区吸收波长800-1100nm的诊疗一体化制剂

3. 催化材料前驱体:负载型催化剂用高比表面积纳米三角片分散液

4. 光学涂层原料:用于制备各向异性等离子体器件的单分散体系

5. 标准物质候选物:通过ISO 17034认证的粒径标准物质研制

检测方法

ASTM E2865-12(2020) 纳米颗粒粒度分布的动态光散射测量规程

ISO/TS 21362:2019 纳米技术-纳米物体表征用透射电子显微镜方法

GB/T 24369.1-2018 金纳米材料表征 第1部分:紫外可见吸收光谱方法

GB/T 36082-2018 纳米技术 纳米材料中金属杂质含量的测定 ICP-MS法

ISO 7870-6:2019 控制图在纳米颗粒浓度监测中的应用规范

检测设备

1. Malvern Zetasizer Nano ZSP:动态/静态光散射联用系统,粒径测量范围0.3nm-10μm

2. JEOL JEM-2100Plus场发射透射电镜:点分辨率0.19nm,配备Gatan OneView相机

3. PerkinElmer Lambda 950紫外可见分光光度计:波长范围175-3300nm,分辨率0.05nm

4. Thermo iCAP RQ ICP-MS:检出限Au元素0.1ppt,线性范围>9个数量级

5. Metrohm 930离子色谱仪:阴离子检出限<0.1ppb,支持梯度洗脱程序

6. Kratos AXIS Supra XPS:单色Al Kα源(1486.6eV),空间分辨率≤7.5μm

7. Anton Paar Litesizer 500:多角度DLS与电泳光散射联用系统

8. HORIBA LabRAM HR Evolution:共聚焦拉曼光谱仪,空间分辨率200nm

9. Mettler Toledo XPR6U超微量天平:最小称量值0.1μg,重复性±0.0025μg

10. Brookhaven BI-200SM广角光散射仪:角度范围15°-155°,支持同步SAXS测量

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

金纳米三角片溶液检测
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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