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聚合物包层光纤检测

因您的需求、实验方案、检测样品、测试过程不同,相应的参考标准请咨询在线工程师!

文章概述:聚合物包层光纤检测是确保光通信传输性能与可靠性的关键技术环节。本文聚焦几何尺寸精度、折射率分布、机械强度及环境适应性等核心指标,涵盖单模/多模光纤及特种涂覆材料类型。检测过程严格遵循ASTMD4566、GB/T15972等国际与国家标准体系,通过精密仪器实现微米级参数测量与长期稳定性验证。

检测项目

1.包层几何尺寸:外径公差0.5μm(典型值125μm),同心度偏差≤0.5μm

2.折射率分布:芯层Δn≥0.005(1550nm波长),梯度分布偏差≤1%

3.机械强度:抗拉强度≥5GPa(GB/T15972.30),弯曲半径≤10mm无断裂

4.温度特性:-40℃~85℃循环测试(IEC60793-1-22),衰减变化≤0.05dB/km

5.涂层附着力:剥离力≥1.5N/cm(ASTMD4566),湿热老化后保持率≥90%

检测范围

1.单模聚合物包层光纤:G.652D/G.657系列通信光纤

2.多模渐变折射率光纤:OM3/OM4/OM5等级多模光纤

3.耐高温涂层光纤:聚酰亚胺/硅树脂复合涂层(工作温度>200℃)

4.抗弯曲光纤:微结构包层弯曲不敏感光纤(ITU-TG.657.B3)

5.特种涂层光纤:紫外固化丙烯酸酯/氟树脂防水涂层光纤

检测方法

1.几何尺寸测量:ASTMD4566-2014《光纤几何参数测试》

2.折射率剖面分析:GB/T15972.45-2021《光纤试验方法规范》

3.机械性能测试:IEC60793-1-31:2019《抗拉强度与疲劳试验》

4.环境可靠性验证:GB/T2423.22-2012《温度循环试验程序》

5.光学性能评估:ISO/IEC14763-3:2014《插入损耗与回波损耗测量》

检测设备

1.EXFONR-9200HR:高分辨率光纤几何分析仪(测量精度0.02μm)

2.LunaOBR4600:光频域反射仪(空间分辨率10μm)

3.Instron5944:微机控制拉力试验机(载荷分辨率0.1N)

4.Agilent81600B:可调谐激光光源系统(波长范围1260-1640nm)

5.VeecoNT9100:白光干涉三维轮廓仪(纵向分辨率0.1nm)

6.ThermotronSM-32C:三综合试验箱(温变速率15℃/min)

7.YokogawaAQ6370D:光谱分析仪(动态范围78dB)

8.MitutoyoLSM-902S:激光扫描显微镜(放大倍率5000X)

9.ILXLightwaveFPM-8210:偏振模色散测试系统(精度0.01ps)

10.AnritsuMT9083:网络分析仪(支持OTDR+CD+PMD综合测试)

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

聚合物包层光纤检测
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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