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陶瓷基片薄膜电阻检测

因您的需求、实验方案、检测样品、测试过程不同,相应的参考标准请咨询在线工程师!

文章概述:陶瓷基片薄膜电阻检测是评估电子元件性能与可靠性的关键环节,需通过精准测量电阻值、温度系数、耐压强度等核心参数确保产品符合工业标准。检测过程需严格遵循ASTM、ISO及GB/T标准规范,结合高精度仪器对氧化铝、氮化铝等基材进行多维度分析,涵盖高频电路、传感器等领域应用验证。

检测项目

5.老化稳定性:85℃/85%RH环境1000小时ΔR≤0.5%

检测范围

5.高频微波电路基板:介电常数9.80.2@40GHz

检测方法

5.环境试验:GB/T2423.3-2016恒定湿热试验标准

检测设备

10.Chroma19032耐压测试仪:最大输出电压5kVAC/DC

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

陶瓷基片薄膜电阻检测
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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