陶瓷基片薄膜电阻检测
因您的需求、实验方案、检测样品、测试过程不同,相应的参考标准请咨询在线工程师!
文章概述:陶瓷基片薄膜电阻检测是评估电子元件性能与可靠性的关键环节,需通过精准测量电阻值、温度系数、耐压强度等核心参数确保产品符合工业标准。检测过程需严格遵循ASTM、ISO及GB/T标准规范,结合高精度仪器对氧化铝、氮化铝等基材进行多维度分析,涵盖高频电路、传感器等领域应用验证。
检测项目
5.老化稳定性:85℃/85%RH环境1000小时ΔR≤0.5%
检测范围
5.高频微波电路基板:介电常数9.80.2@40GHz
检测方法
5.环境试验:GB/T2423.3-2016恒定湿热试验标准
检测设备
10.Chroma19032耐压测试仪:最大输出电压5kVAC/DC
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。