光学性质检测丨北京中科光析科学技术研究所

光学性质检测

文章概述：光学性质检测是评估材料透光性、反射特性及色散行为的关键技术手段，广泛应用于光学元件、显示面板及功能性涂层等领域。核心检测参数包括透光率、折射率及色散系数等，需依据ASTM、ISO及GB/T标准规范操作。本文系统阐述检测项目、方法及设备选型要点，为科研与工业质量控制提供技术参考。

1. 透光率：测量波长380-780nm可见光透过率（典型值85%-95%）

2. 折射率：测定材料在589.3nm钠D线下的折射指数（n=1.33-2.42）

3. 色散系数：计算阿贝数vd=（nD-1)/(nF-nC)，范围20-90

4. 反射率：镜面反射角8°时近红外波段反射性能（＞95%@1064nm）

5. 吸收系数：紫外-可见光谱范围内吸收特性（α=10^2-10^5 cm^-1）

1. 光学玻璃（BK7、熔融石英等基底材料）

2. 聚碳酸酯/PMMA塑料薄膜（厚度0.1-5mm）

3. 金属真空镀膜层（Al/Ag/Au镀层厚度50-200nm）

4. 半导体材料（GaAs/SiC等带隙能量测试）

5. 防眩光/抗反射功能涂层（表面粗糙度Ra＜50nm）

1. ASTM D1003：非补偿法测定透明塑料雾度与透光率

2. ISO 489:1999：棱镜最小偏向角法测量固体折射率

3. GB/T 7962.1-2010：激光干涉法测定光学均匀性

4. ISO 13696:2002：积分球法测量低散射材料反射率

5. GB/T 37501-2019：椭圆偏振光谱法表征薄膜光学常数

1. PerkinElmer Lambda 950分光光度计：190-3300nm全波段透射/反射分析

2. J.A. Woollam M-2000D椭偏仪：70°入射角薄膜厚度测量精度±0.1nm

3. ATAGO NAR-1T SOLID阿贝折射仪：nD测量范围1.30-1.72，精度±0.0002

4. Labsphere CAS 140D积分球光谱仪：4π立体角散射特性分析

5. Zygo Verifire XP/D激光干涉仪：λ/20波前精度光学元件面形检测

6. Bruker Contour GT-K光学轮廓仪：0.1nm垂直分辨率表面粗糙度测量

7. Shimadzu UV-3600i Plus紫外可见近红外分光光度计：带宽0.1nm可调

8. Horiba Jobin Yvon UVISEL相位调制型椭偏仪：0.75-6.5eV宽光谱分析

9. Agilent Cary 7000全能型分光光度计：支持VASE可变角光谱椭偏

10. Ocean Insight FX系列光纤光谱仪：200-2500nm快速响应在线监测

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。