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区域描绘检测

因您的需求、实验方案、检测样品、测试过程不同,相应的参考标准请咨询在线工程师!

文章概述:区域描绘检测是通过系统化分析材料或产品的局部物理特性与结构参数的专业技术手段,涵盖表面形貌、力学性能及成分分布等核心指标。检测过程严格遵循国际及国家标准规范,重点针对金属、高分子、复合材料等工业材料的微观缺陷、均匀性及功能性进行量化评估。

检测项目

1. 表面粗糙度:Ra值范围0.1-6.3μm,Rz值范围0.5-40μm

2. 涂层厚度:测量精度±0.5μm(0-200μm区间)

3. 显微硬度:HV0.01-HV1.0载荷范围(10gf-1000gf)

4. 孔隙率分析:孔径检测下限0.1μm,统计密度误差≤2%

5. 残余应力:X射线衍射法测量精度±20MPa

6. 元素分布:EDS面扫描分辨率≥128×128像素

7. 三维形貌重建:Z轴分辨率0.01μm(20×物镜)

检测范围

1. 金属材料:航空航天钛合金部件、汽车发动机缸体涂层

2. 高分子材料:医用导管表面改性层、光伏背板封装膜

3. 陶瓷基复合材料:热障涂层截面结构、刹车片摩擦层

4. 电子元器件:PCB焊点微观结构、芯片封装界面

5. 生物医用材料:人工关节表面处理层、齿科种植体氧化层

检测方法

1. ISO 4287:1997/GB/T 3505-2009 表面粗糙度参数评定

2. ASTM B487-20/GB/T 6462-2005 横截面法测镀层厚度

3. ISO 6507-1:2018/GB/T 4340.1-2009 维氏硬度试验

4. ASTM E1245-03(2016) 金相图像法定量孔隙率

5. GB/T 7704-2017 X射线衍射残余应力测定

6. ISO 22309:2011 EDS定量分析标准

7. ISO 25178-2:2012 三维表面纹理测量规范

检测设备

1. 轮廓仪:Mitutoyo Surftest SJ-410(Ra/Rz测量)

2. 金相显微镜:Olympus GX53(500×涂层截面观测)

3. 显微硬度计:Wilson Tukon 1102(HV/HK标尺)

4. X射线应力仪:Proto LXRD(Cr靶材ψ角法)

5. 扫描电镜:Hitachi SU5000(EDS面分布分析)

6. 白光干涉仪:Bruker ContourGT-K(3D形貌重建)

7. 激光共聚焦显微镜:Keyence VK-X3000(亚微米级粗糙度)

8. 热场发射电镜:JEOL JSM-7800F(纳米级孔隙观测)

9. XRF镀层测厚仪:Fischer XDV-SDD(多层镀膜分析)

10. CT扫描系统:Zeiss Xradia 620 Versa(三维缺陷重构)

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

区域描绘检测
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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