检测项目

1. 粒度分布测定：测量0.1μm-3500μm范围内的体积/数量分布

2. D10/D50/D90值分析：表征累积分布10%、50%、90%处的特征粒径

3. 比表面积测试：采用BET法测定0.01-2000 m²/g比表面积范围

4. 颗粒形貌表征：圆形度（0-1）、长径比（≥1）等几何参数

5. Zeta电位测定：分析-200mV至+200mV范围内颗粒表面电荷特性

检测范围

1. 金属粉末：钛合金粉、钨粉等增材制造原料

2. 陶瓷原料：氧化铝、碳化硅等研磨介质

3. 制药颗粒：片剂崩解剂、API原料药微粒

4. 涂料填料：纳米二氧化钛、碳酸钙分散体系

5. 环境样品：大气PM2.5/PM10颗粒物、土壤沉积物

检测方法

1. 激光衍射法：ISO 13320-1:2020《粒度分析-激光衍射法》

2. 动态光散射法：GB/T 19627-2023《粒度分析-光子相关光谱法》

3. 筛分分析法：ASTM B214-22《金属粉末筛分标准试验方法》

4. 图像分析法：ISO 13322-2:2021《静态图像分析法》

5. 气体吸附法：GB/T 19587-2017《气体吸附BET法测定固态物质比表面积》

检测设备

1. 马尔文 Mastersizer 3000：激光衍射仪，测量范围10nm-3.5mm

2. 贝克曼库尔特LS 13 320：超声增强型湿法粒度分析仪

3. 麦克默瑞提 TriStar II Plus：全自动比表面及孔隙度分析仪

4. FEI Helios G4 UX：场发射扫描电镜（配EDAX能谱）

5. 布鲁克 Dimension Icon：原子力显微镜（AFM）三维形貌分析

6. 岛津SALD-7500nano：纳米粒度及Zeta电位联用系统

7. Retsch AS200 control：全自动振动筛分仪（8级筛网）

8. Horiba Partica LA-960V2：激光散射/图像复合分析系统

9. Sympatec HELOS/RODOS：干法分散激光衍射系统

10. Micromeritics Saturn DigiSizer 5200：高精度数字成像粒度仪

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。