检测项目

1. 活度梯度范围：测量元素浓度梯度变化（单位：at%/μm）

2. 分布均匀性偏差值：计算区域活度标准差（±0.5%以内）

3. 界面扩散系数：测定元素跨界面迁移速率（10⁻¹⁴~10⁻¹⁰ m²/s）

4. 热力学活度平衡时间：记录系统达到平衡所需时长（0.5~48h）

5. 临界相变活度阈值：确定材料相变触发点（精度±0.02 a.u.）

检测范围

1. 金属合金：镍基高温合金、钛铝基复合材料

2. 半导体材料：硅晶圆掺杂层、GaN外延薄膜

3. 核燃料元件：UO₂芯块、Zr合金包壳涂层

4. 高分子复合材料：碳纤维/环氧树脂界面层

5. 陶瓷涂层：热障涂层（TBCs）中的YSZ层

检测方法

1. ASTM E1078-2021《表面活性元素分布的电子探针分析方法》

2. ISO 22309:2011《微束分析-能谱法定量分析通则》

3. GB/T 17359-2023《微束分析 电子探针显微分析通用技术条件》

4. ASTM E1508-2020《二次离子质谱法测定表面杂质规程》

5. GB/T 19502-2023《表面化学分析 辉光放电发射光谱方法通则》

检测设备

1. Thermo Scientific ARL QUANT'X XRF Analyzer：实现0.1ppm级元素分布成像

2. JEOL JXA-8530F场发射电子探针：配备5通道WDS系统（空间分辨率3nm）

3. CAMECA IMS 7f-auto SIMS：深度分辨率优于1nm的二次离子质谱仪

4. Bruker D8 ADVANCE XRD系统：配备Eulerian cradle的织构分析模块

5. Oxford Instruments AZtecSynergy EDS：支持大面积面扫的能谱联用系统

6. HORIBA GD-Profiler 2 RF GD-OES：深度剖析速率达10μm/min

7. Zeiss Crossbeam 550 FIB-SEM：离子束切片与三维重构联用平台

8. PerkinElmer NexION 350S ICP-MS：同位素比值测定精度0.005% RSD

9. Shimadzu EPMA-8050G：配备全聚焦分光晶体（波长分辨率0.0001nm）

10. Agilent 7900 ICP-MS/MS：MS/MS模式消除质谱干扰

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。