检测项目

1. 粒径分布：测量D10/D50/D90值及跨度系数（Span Index）

2. 比表面积：采用BET法测定单位质量颗粒总表面积

3. 颗粒形貌：通过圆度（Roundness）和长径比（Aspect Ratio）量化形状特征

4. 团聚指数：评估干粉或悬浮液中颗粒二次团聚程度

5. Zeta电位：测定胶体体系颗粒表面电荷特性

检测范围

1. 金属粉末：钛合金、钨粉等增材制造原料

2. 陶瓷材料：氧化铝、碳化硅等结构陶瓷粉体

3. 制药辅料：微晶纤维素、乳糖等固体制剂成分

4. 涂料颜料：钛白粉、碳酸钙等分散体系

5. 环境颗粒物：PM2.5/PM10大气悬浮颗粒监测

检测方法

1. 激光衍射法：ISO 13320-1、GB/T 19077-2016

2. 动态光散射法：ISO 22412、GB/T 29022-2012

3. 筛分分析法：ASTM B214-16、GB/T 6003.1-2012

4. 图像分析法：ISO 13322-2、GB/T 21649.1-2008

5. 沉降法：ASTM B761-17、GB/T 6524-2003

检测设备

1. 马尔文 Mastersizer 3000：激光衍射仪，量程0.01-3500μm

2. 贝克曼库尔特 LS 13 320 XR：湿法/干法双模粒径分析系统

3. 麦奇克 Bettersize 2600：动态图像分析仪，分辨率3μm

4. HORIBA LA-960V2：全自动激光粒度仪，支持纳米级测量

5. 布鲁克 SENTERRA II：拉曼光谱联用系统，实现化学组分同步分析

6. 岛津 SALD-7500nano：纳米粒度分析仪，测量下限0.5nm

7. RETSCH AS200 control：全自动振动筛分机，8级筛分程序

8. 麦克仪器 TriStar II Plus：比表面及孔隙度分析仪

9. PSS Nicomp 380 ZLS：动态光散射Zeta电位分析系统

10. FEI Quanta 650 FEG：场发射扫描电镜，分辨率1nm

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。