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正电性检测

因您的需求、实验方案、检测样品、测试过程不同,相应的参考标准请咨询在线工程师!

文章概述:正电性检测是评估材料表面电荷特性的重要手段,涉及表面电荷密度、Zeta电位等核心参数。本文依据ASTM、ISO及GB/T标准体系,系统阐述检测项目、方法及设备选型要点,适用于高分子材料、纳米颗粒等领域的质量控制与性能研究。

检测项目

1.表面电荷密度:测量范围0.1-1000μC/cm,分辨率0.05μC/cm 2.Zeta电位:测试范围200mV,精度1.5% 3.接触起电电压:量程0-20kV,重复性误差≤3% 4.静电衰减时间:测定范围0.1-3600s,时间常数误差≤5% 5.体积电阻率:测量范围10^6-10^18Ωcm,温度控制0.5℃

检测范围

1.高分子材料:聚乙烯薄膜、聚丙烯纤维等 2.纳米颗粒:金属氧化物纳米粉体、碳基纳米材料 3.纺织品:防静电工作服、工业滤布 4.电子元件:半导体封装材料、电路板基材 5.生物材料:医用导管表面涂层、药物载体微粒

检测方法

1.ASTMD4470-2018:非导电材料表面电压测量标准 2.ISO13099-2:2021:胶体体系Zeta电位测定技术规范 3.GB/T12703.4-2020:纺织品静电性能评价第4部分:电荷面密度 4.IEC61340-4-1:2015:静电放电保护材料的电阻特性测试 5.GB/T1410-2006:固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法

检测设备

1.静电场测试仪FMX-003:量程20kV,配备非接触式探头 2.Zeta电位分析仪MalvernZetasizerNanoZS90:动态光散射技术 3.静电衰减测试仪EST121:符合MIL-STD-1686C标准 4.高阻计KEITHLEY6517B:分辨率0.01fA,最大电阻10^18Ω 5.接触式电位计TrekModel347:测量精度0.1%FS 6.温控四探针测试仪Loresta-GXMCP-T700:支持ASTMD4496标准 7.摩擦带电测试机TLD-1000:可调摩擦压力0-50N 8.法拉第杯系统FCS-01A:电荷收集效率≥99% 9.环境控制箱ESPECPL-3KPH:温湿度范围10-90%RH/-40-150℃ 10.原子力显微镜BrukerDimensionIcon:表面电势成像分辨率1mV

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

正电性检测
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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