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文章概述：门传输延迟检测是评估数字电路性能的核心指标之一，主要针对逻辑门的信号传输时效性进行量化分析。专业检测涵盖上升/下降时间、传播延迟、阈值电压等关键参数，适用于CMOS、TTL等多种半导体器件。通过国际标准方法及高精度示波器、逻辑分析仪等设备实现纳秒级测量精度，为集成电路设计与质量控制提供数据支撑。
检测项目
1.上升时间（RiseTime）：10%-90%电平转换时间测量（0.1ns-50ns） 2.下降时间（FallTime）：90%-10%电平转换时间测量（0.1ns-50ns） 3.传播延迟（PropagationDelay）：输入到输出信号变化的时间差（0.5ns-100ns） 4.阈值电压偏差（ThresholdVoltageDeviation）：5%标称值误差范围 5.温度漂移特性（-55℃~125℃工况下的延迟波动）
检测范围
1.CMOS逻辑门电路（74HC系列/CD4000系列） 2.TTL逻辑器件（74LS/74F/74ALS系列） 3.ECL高速逻辑电路（10K/100K系列） 4.FPGA/CPLD可编程器件IO单元 5.汽车电子用AEC-Q100认证门电路
检测方法
1.ISO11898-2:2016数字电路时序特性测试规范 2.ASTMF744M-2020半导体开关时间测量规程 3.GB/T17574-2021半导体器件通用测试方法 4.IEC60747-4:2020分立器件开关参数测试 5.JEDECJESD22-A114E电子器件时序特性加速测试
检测设备
1.KeysightDSOX1204G示波器（4GHz带宽,10GSa/s采样率） 2.TektronixMSO64B混合信号分析仪（6GHz带宽,25GSa/s） 3.Rohde&SchwarzRTO6示波器（16bit高精度ADC） 4.AdvantestTAS7400SU时间间隔分析仪（15ps分辨率） 5.NIPXIe-5164数字化仪（14bit,500MHz带宽） 6.Agilent81150A脉冲信号发生器（120MHz调制频率） 7.Chroma3380P半导体测试系统（256通道并行测试） 8.Fluke9500B示波器校准系统（时基精度0.5ppm） 9.AnritsuMP1900A误码率测试仪（28Gbps信号生成） 10.GWInstekGSP-9330频谱分析仪（9kHz~3GHz频段）
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
