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基厚检测

因您的需求、实验方案、检测样品、测试过程不同,相应的参考标准请咨询在线工程师!

文章概述:检测项目1.平均厚度测量:精度0.01mm(金属)/0.5μm(薄膜)2.厚度均匀性分析:横向/纵向波动值≤3%3.最小局部厚度定位:分辨率0.001mm4.镀层/涂层复合厚度:分层测量误差≤1μm5.边缘效应修正:补偿范围15%基准值检测范围1.金属材料:冷轧钢板(0.1-6mm)、铝箔(6-200μm)、铜带材2.高分子材料:PE薄膜(10-500μm)、注塑件壁厚(1-50mm)3.表面处理层:电镀锌层(5-25μm)、阳极氧化膜(10-100μm)4.玻璃制品:浮法玻璃(2-19mm)、光学透镜曲

检测项目

1.平均厚度测量:精度0.01mm(金属)/0.5μm(薄膜)2.厚度均匀性分析:横向/纵向波动值≤3%3.最小局部厚度定位:分辨率0.001mm4.镀层/涂层复合厚度:分层测量误差≤1μm5.边缘效应修正:补偿范围15%基准值

检测范围

1.金属材料:冷轧钢板(0.1-6mm)、铝箔(6-200μm)、铜带材2.高分子材料:PE薄膜(10-500μm)、注塑件壁厚(1-50mm)3.表面处理层:电镀锌层(5-25μm)、阳极氧化膜(10-100μm)4.玻璃制品:浮法玻璃(2-19mm)、光学透镜曲率厚度5.复合材料:碳纤维预浸料(0.1-0.5mm)、夹层结构芯材

检测方法

1.超声波测厚法:ASTMB499/GB/T4956(金属基体)2.β射线反向散射法:ISO3497(镀层厚度)3.激光共聚焦法:GB/T29557(透明/半透明材料)4.涡流检测法:ASTME376(非导电基体导电涂层)5.X射线荧光法:ISO3497(多层复合镀层)

检测设备

1.Mitutoyo千分尺系列(293-340-30型):机械接触式测量,分辨率0.001mm2.Olympus38DLPLUS超声波测厚仪:频率5MHz,适用高温材料(≤300℃)3.FischerMP0X射线荧光仪:可测Fe/Ni/Cr/Zn等20种镀层元素4.KeyenceLK-G5000激光位移计:非接触式扫描,采样率392kHz5.Elcometer456涂层测厚仪:磁感应/涡流双模式,量程0-2000μm6.BrukerContourGT-X3光学轮廓仪:三维厚度成像,垂直分辨率0.1nm7.ThermoScientificNitonXL5手持XRF:合金基体快速筛查8.ZeissAxioImager金相显微镜:结合切割制样测量微观厚度9.Panametrics36DL超声探头组:高温专用楔块(最高600℃)10.HexagonAbsoluteARM测量臂:大型构件三维厚度建模

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

基厚检测
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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