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须边体检测

因您的需求、实验方案、检测样品、测试过程不同,相应的参考标准请咨询在线工程师!

文章概述:检测项目1.须边长度测量:精度0.01mm,测量范围0.1-5.0mm2.直径均匀性分析:偏差值≤5%标称直径3.密度分布检测:单位面积密度200-2000根/cm4.抗拉强度测试:载荷范围0-500N,分辨率0.1N5.表面粗糙度评估:Ra值0.1-6.3μm检测范围1.金属板材切削边缘(铝合金/钛合金/不锈钢)2.高分子薄膜撕裂界面(PE/PP/PET)3.碳纤维复合材料断面4.纺织纤维断裂端面(芳纶/超高分子量聚乙烯)5.电子元件封装材料毛刺检测方法1.ASTME112-13晶粒度测定方法2.ISO

检测项目

1.须边长度测量:精度0.01mm,测量范围0.1-5.0mm2.直径均匀性分析:偏差值≤5%标称直径3.密度分布检测:单位面积密度200-2000根/cm4.抗拉强度测试:载荷范围0-500N,分辨率0.1N5.表面粗糙度评估:Ra值0.1-6.3μm

检测范围

1.金属板材切削边缘(铝合金/钛合金/不锈钢)2.高分子薄膜撕裂界面(PE/PP/PET)3.碳纤维复合材料断面4.纺织纤维断裂端面(芳纶/超高分子量聚乙烯)5.电子元件封装材料毛刺

检测方法

1.ASTME112-13晶粒度测定方法2.ISO4287:1997表面粗糙度参数标准3.GB/T228.1-2021金属材料拉伸试验规程4.ISO25178-2:2022表面形貌区域分析5.GB/T3505-2009表面粗糙度术语定义

检测设备

1.HitachiSU5000场发射扫描电镜:分辨率1nm,放大倍数20-800,0002.MitutoyoCMM544三坐标测量机:空间精度(1.9+L/250)μm3.Instron5967双立柱拉力试验机:最大载荷50kN4.TaylorHobsonFormTalysurfi系列轮廓仪:Z轴分辨率0.8nm5.OlympusGX53金相显微镜:物镜放大倍数5-1006.BrukerD8DiscoverX射线衍射仪:角度精度0.00017.MalvernMastersizer3000激光粒度仪:测量范围0.01-3500μm8.TAInstrumentsTGA550热重分析仪:温度精度0.1℃9.PerkinElmerSpectrumTwo红外光谱仪:波数范围4000-450cm⁻10.BrukerDimensionIcon原子力显微镜:Z轴分辨率0.05nm

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

须边体检测
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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