检测项目

1.计数精度：测量误差≤0.001%，分辨率达0.1Hz2.线性范围：10MHz-3GHz频段内非线性偏差＜0.005%3.重复性误差：连续10次测量标准差≤0.0008%4.温度漂移：-20℃至+70℃范围内频率偏移＜5ppm5.抗干扰能力：在50V/m电磁场强度下信号失真度＜3dB

检测范围

1.半导体材料：硅片/砷化镓晶圆表面缺陷密度测定2.光学晶体：铌酸锂/石英晶体谐振器品质因数分析3.压电陶瓷：PZT材料极化后畴结构统计4.生物医药：药物结晶过程中晶型转化率监控5.金属材料：单晶高温合金枝晶间距测量

检测方法

1.ASTMF1241-22《高频晶体计数器校准规程》2.ISO16063-21:2023《振动与冲击传感器校准方法》3.GB/T16531-2020《石英晶体元件参数测量方法》4.IEC60444-8:2019《压电谐振器参数测试》5.GB/T30118-2013《半导体材料缺陷密度测试通则》

检测设备

1.Agilent53132A频率计数器：12位/s采样率，时基稳定度0.01ppm2.Keysight53230A通用计数器：双通道3GHz带宽相位噪声分析3.Rohde&SchwarzFSWP相位噪声分析仪：26.5GHz超低底噪测量4.TektronixMDO3104混合域示波器：集成频谱分析与逻辑触发功能5.AnritsuMF2400C微波计数器：40GHz毫米波频段测量能力6.StanfordResearchSR620时间间隔分析仪：50ps时间分辨率7.FlukePM6685R高精度计时器：GPS驯服时钟同步技术8.NIPXIe-5632矢量网络分析仪：材料介电常数动态测试模块9.OlympusLEXTOLS5000激光共聚焦显微镜：纳米级表面形貌关联分析10.MalvernMastersizer3000激光粒度仪：0.01-3500μm结晶尺寸统计

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。