检测项目

1.相位偏移量：测量范围180，分辨率0.012.频率稳定性：偏差值≤5ppm@25℃3.信号抖动：RMS值＜1ps（12.5Gb/s速率）4.时钟占空比：误差范围1%5.眼图交叉点：位置偏差≤2%UI

检测范围

1.半导体晶圆（硅基/砷化镓基）2.高速光模块（100G/400G）3.微波射频器件（5G基站组件）4.光学薄膜（AR/IR镀膜）5.MEMS传感器（陀螺仪/加速度计）

检测方法

1.ASTMF1390-2018：射频器件相位噪声测试规程2.ISO13695:2004：光学元件光谱相位特性测定3.GB/T30111-2013：电子元器件时域反射测量法4.IEC60793-1-49:2018：光纤偏振模色散测试5.GB/T15972.40-2021：光纤器件群时延特性试验

检测设备

1.KeysightN9020B信号分析仪：支持40GHz矢量网络分析2.TektronixDPO73304S示波器：33GHz带宽眼图测试3.ZygoVerifire干涉仪：λ/1000相位测量精度4.Rohde&SchwarzFSWP相位噪声分析仪：-190dBc/Hz底噪5.Agilent8720ES网络分析仪：300kHz-20GHzS参数测量6.LunaOVA5000光矢量分析系统：1200nm-1650nm波长覆盖7.EXFOFTB-5240S误码率测试仪：28GbpsNRZ信号生成8.ONSETT3Ster动态热阻测试仪：μs级瞬态响应采集9.PolytecMSA-600微系统分析仪：纳米级振动相位测量10.Chroma33622A函数发生器：16bit垂直分辨率输出

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。