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数码激光扩印检测

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文章概述:检测项目1.光斑直径测量:采用0.5μm精度测量系统,范围50-500μm2.功率密度分布:扫描步长10μm,能量波动≤3%3.热影响区厚度:金相切片法测量深度0.1-2.0mm4.边缘陡直度:角度偏差≤0.5,Ra值≤0.8μm5.微结构缺陷:分辨率0.1μm的SEM成像分析检测范围1.金属材料:不锈钢/铝合金/钛合金精密零件2.高分子材料:PET/PI/PC薄膜制品3.陶瓷基板:氧化铝/氮化硅电子封装件4.复合材料:碳纤维增强聚合物构件5.光学元件:蓝宝石玻璃/熔融石英窗口片检测方法1.ASTME25

检测项目

1.光斑直径测量:采用0.5μm精度测量系统,范围50-500μm2.功率密度分布:扫描步长10μm,能量波动≤3%3.热影响区厚度:金相切片法测量深度0.1-2.0mm4.边缘陡直度:角度偏差≤0.5,Ra值≤0.8μm5.微结构缺陷:分辨率0.1μm的SEM成像分析

检测范围

1.金属材料:不锈钢/铝合金/钛合金精密零件2.高分子材料:PET/PI/PC薄膜制品3.陶瓷基板:氧化铝/氮化硅电子封装件4.复合材料:碳纤维增强聚合物构件5.光学元件:蓝宝石玻璃/熔融石英窗口片

检测方法

1.ASTME2544-11a激光加工表面形貌表征2.ISO13694:2018激光功率密度分布测试3.GB/T15175-2012金属材料激光加工质量评定4.ISO25178-2:2022三维表面粗糙度测量5.GB/T38822-2020硬脆材料激光加工缺陷检测

检测设备

1.KeyenceVK-X3000:3D激光共聚焦显微镜(1200900μm视野)2.OlympusDSX1000:数字景深合成显微镜(20-7000)3.PrimesFocusMonitor:光束质量分析仪(波长190-1100nm)4.MitutoyoCrysta-ApexS:坐标测量机(精度0.6+L/600μm)5.ZeissSigma300:场发射扫描电镜(分辨率1.0nm@15kV)6.FLIRX6900sc:高速红外热像仪(12801024像素@346Hz)7.BrukerContourGT-X3:白光干涉仪(垂直分辨率0.1nm)8.OphirBeamGage:激光功率计(量程10μW-30kW)9.ShimadzuAG-XPlus:材料试验机(载荷100kN)10.MalvernPanalyticalEmpyrean:X射线衍射仪(角度精度0.0001)

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

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中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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