检测项目

1.光电转换效率：测量波长范围380-1100nm，功率密度100mW/cm条件下转换效率偏差≤1.5%2.光谱响应范围：扫描波长200-2000nm区间量子效率曲线，分辨率≤1nm3.暗电流特性：反向偏压5V时暗电流密度≤1nA/cm4.热阻系数：结温升ΔT≤15℃/W（稳态法测试）5.发光均匀性：芯片表面照度分布差异≤8%（积分球法测量）

检测范围

1.LED芯片：GaN基蓝光/紫外芯片、AlGaInP红光芯片2.激光二极管：808nm泵浦激光器、VCSEL阵列器件3.光电探测器：InGaAs雪崩二极管、Si-PIN光电传感器4.太阳能电池：单晶硅PERC电池、钙钛矿叠层电池5.光纤通信模块：EML调制激光器、APD接收组件

检测方法

1.ASTME1021-15：半导体材料少子寿命测试规程2.ISO22140:2020：光电器件加速老化试验方法3.GB/T31358-2015：LED模块光通量维持率测试4.IEC60747-5-3：分立器件光电参数测试标准5.JESD22-A108F：温度循环可靠性试验规范

检测设备

1.KeysightB2902A精密源表：IV特性曲线测量（分辨率0.1fA）2.OceanOpticsHR4000光谱仪：200-1100nm光谱分析（光学带宽0.75nm）3.TASystemT3Ster热阻测试仪：瞬态结温测量（精度0.5℃）4.Agilent4155C半导体参数分析仪：多通道电学特性测试5.LabsphereLMS-9000积分球系统：光通量测量（直径2m）6.ThermoScientificESCALABXi+XPS：表面元素化学态分析7.FEIHeliosG4UXFIB-SEM：纳米尺度结构缺陷观测8.CascadeSummit12000探针台：晶圆级光电参数测试9.ESPECPCT-322耐候试验箱：双85加速老化试验（温度85℃/湿度85%）10.HamamatsuC12132光电响应测试系统：纳秒级时间分辨特性分析

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。