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短波波长极限检测

因您的需求、实验方案、检测样品、测试过程不同,相应的参考标准请咨询在线工程师!

文章概述:检测项目1.波长范围验证:200-400nm波段覆盖性测试(0.2nm误差限)2.波长精度校准:基于汞灯特征谱线进行基准校正(0.1nm重复精度)3.光谱分辨率测试:半峰全宽(FWHM)≤0.05nm@253.7nm4.信噪比评估:≥30dB@300nm连续光源条件5.长期稳定性监测:24小时漂移量≤0.05nm检测范围1.紫外光学薄膜:抗反射膜/高反膜的截止波长验证2.半导体材料:GaN基LED外延片的带边发射特性分析3.激光晶体:Nd:YVO4等非线性晶体的倍频输出监测4.特种光纤:紫外波段传输光纤的

检测项目

1.波长范围验证:200-400nm波段覆盖性测试(0.2nm误差限)2.波长精度校准:基于汞灯特征谱线进行基准校正(0.1nm重复精度)3.光谱分辨率测试:半峰全宽(FWHM)≤0.05nm@253.7nm4.信噪比评估:≥30dB@300nm连续光源条件5.长期稳定性监测:24小时漂移量≤0.05nm

检测范围

1.紫外光学薄膜:抗反射膜/高反膜的截止波长验证2.半导体材料:GaN基LED外延片的带边发射特性分析3.激光晶体:Nd:YVO4等非线性晶体的倍频输出监测4.特种光纤:紫外波段传输光纤的截止波长测定5.光电探测器:日盲型紫外探测器的响应阈值标定

检测方法

ASTME275-08(2022):紫外-可见分光光度计性能验证标准ISO24013:2006:光学元件偏振特性的光谱测量规范GB/T13323-1991:光栅单色仪技术条件(含波长校准细则)GB/T32212-2015:半导体发光二极管测试方法(紫外LED部分)IEC61228:2020:紫外荧光灯性能测量国际规范

检测设备

1.AgilentCary7000UV-Vis-NIR光谱仪:200-330nm高精度扫描2.Bristol721A型激光波长计:0.001nm级绝对波长测量3.OceanInsightFX-UV200光纤光谱仪:深紫外区快速采集系统4.McPhersonModel234单色仪:真空紫外级杂散光抑制设计5.HamamatsuC10082CAH瞬态光谱仪:纳秒级时间分辨测量6.KeysightN7744A多通道光功率计:200-400nm线性度校准7.OrielCornerstone260单色仪:双光栅自动切换系统8.HoribaiHR550成像光谱仪:二维空间光谱分布分析9.BrukerV70真空傅里叶光谱仪:远紫外区干涉测量10.LabsphereUV-1000F均匀光源:200-400nm波段辐照度标定

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

短波波长极限检测
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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