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干涉滤光片检测

因您的需求、实验方案、检测样品、测试过程不同,相应的参考标准请咨询在线工程师!

文章概述:检测项目1.中心波长精度:偏差范围0.5nm@400-700nm波段2.半高宽(FWHM):测量值2nm内符合标称值3.峰值透射率:可见光波段≥90%,近红外≥85%4.截止深度:带外抑制OD值≥4@偏离中心波长20nm5.环境稳定性:温度循环(-40℃~85℃)后波长漂移≤0.3nm检测范围1.石英基硬膜滤光片:紫外至近红外波段2.光学树脂柔性滤光片:380-2500nm可定制3.氟化钙晶体滤光片:中红外3-5μm波段4.荧光显微镜用二向色滤光片:45入射角设计5.激光防护滤光片:OD6+防护等级检测方

检测项目

1.中心波长精度:偏差范围0.5nm@400-700nm波段2.半高宽(FWHM):测量值2nm内符合标称值3.峰值透射率:可见光波段≥90%,近红外≥85%4.截止深度:带外抑制OD值≥4@偏离中心波长20nm5.环境稳定性:温度循环(-40℃~85℃)后波长漂移≤0.3nm

检测范围

1.石英基硬膜滤光片:紫外至近红外波段2.光学树脂柔性滤光片:380-2500nm可定制3.氟化钙晶体滤光片:中红外3-5μm波段4.荧光显微镜用二向色滤光片:45入射角设计5.激光防护滤光片:OD6+防护等级

检测方法

1.ASTME903-20《材料光谱透射率测试标准》2.ISO9211-4:2012《光学镀膜环境耐久性试验》3.GB/T26331-2010《光学薄膜元件通用规范》4.GB/T14148-2011《光学晶体均匀性测试方法》5.ISO14998:2018《光学元件表面疵病分级》

检测设备

1.PerkinElmerLambda1050+双光束分光光度计:190-3300nm光谱分析2.J.A.WoollamM-2000D椭偏仪:膜层厚度与折射率测量3.ESPECSH-261高低温试验箱:-70℃~180℃温控测试4.ZygoVerifireMST激光干涉仪:面形精度λ/10@632.8nm5.OceanInsightFX系列光纤光谱仪:快速响应光谱采集6.FilmetricsF20膜厚测量仪:非接触式薄膜厚度分析7.BrukerDektakXT表面轮廓仪:表面粗糙度Ra≤0.5nm8.BinderKBF720恒温恒湿箱:湿度控制精度2%RH9.ThermoNicoletiS50傅里叶红外光谱仪:中远红外波段测试10.OlympusBX53工业显微镜:200表面缺陷观测

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

干涉滤光片检测
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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