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暗部黑死部分检测

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文章概述:检测项目1.暗部亮度均匀性:测量0.01-10cd/m范围内的亮度波动值(ΔL≤5%)2.色度坐标偏移量:CIE1931色度图x/y值偏差(Δx≤0.002,Δy≤0.003)3.对比度衰减率:1000:1至50:1范围内的动态衰减曲线分析4.反射率梯度:380-780nm波段反射率变化斜率(Rmax/Rmin≤1.8)5.微观结构缺陷密度:暗区表面缺陷点密度(≤3defects/cm)检测范围1.OLED/AMOLED显示屏的暗态像素单元2.液晶面板背光模组扩散膜3.光学防反射涂层镀膜玻璃4.半导体晶圆

检测项目

1.暗部亮度均匀性:测量0.01-10cd/m范围内的亮度波动值(ΔL≤5%)2.色度坐标偏移量:CIE1931色度图x/y值偏差(Δx≤0.002,Δy≤0.003)3.对比度衰减率:1000:1至50:1范围内的动态衰减曲线分析4.反射率梯度:380-780nm波段反射率变化斜率(Rmax/Rmin≤1.8)5.微观结构缺陷密度:暗区表面缺陷点密度(≤3defects/cm)

检测范围

1.OLED/AMOLED显示屏的暗态像素单元2.液晶面板背光模组扩散膜3.光学防反射涂层镀膜玻璃4.半导体晶圆切割边缘暗区5.高精度相机CMOS传感器暗角区域

检测方法

1.ASTME1164-22《物体色差测量标准实践》2.ISO12646:2015《平面显示器色度特性测量》3.GB/T18922-2022《液晶显示器件光学性能测试方法》4.ISO13653:2019《光学和光子学显微镜成像均匀性评价》5.GB/T26180-2023《电子显示器件对比度测试规范》

检测设备

1.KonicaMinoltaCS-2000分光辐射亮度计(0.01-100,000cd/m测量范围)2.X-Ritei1Pro3分光光度计(380-730nm波长精度0.5nm)3.RadiantProMetricY45成像色度计(45MP分辨率)4.OlympusOLS5000激光共聚焦显微镜(120nm横向分辨率)5.KeysightU8031A直流电源(0-30V/0-20A输出稳定性0.05%)6.ThermoScientificEVOHD25环境试验箱(温控精度0.1℃)7.BrukerContourGT-X3白光干涉仪(垂直分辨率0.1nm)8.HamamatsuC12880MA微型光谱仪(340-850nm响应带宽)9.Gooch&HousegoOL490Agile光源系统(可调光谱范围200-2500nm)10.VisionResearchPhantomVEO1310高速摄像机(12800fps@1280x800)

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

暗部黑死部分检测
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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