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光匹配滤光器检测

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文章概述:检测项目1.中心波长精度:测量实际中心波长与标称值的偏差范围(0.5nm)2.半高宽(FWHM):分析透射带宽度(典型值5-20nm)3.峰值透过率:测试最大透射率(≥90%@指定波长)4.截止深度:评估阻带区域衰减能力(OD≥4@截止区)5.温度稳定性:验证-40℃至+85℃环境下的波长漂移(≤0.02nm/℃)6.表面质量:依据ISO10110-7标准检测划痕/麻点等级7.环境耐久性:湿热试验(85℃/85%RH,240h)后的性能保持率检测范围1.带通滤光片:用于荧光显微镜的光谱分离元件2.长通/短

检测项目

1.中心波长精度:测量实际中心波长与标称值的偏差范围(0.5nm)2.半高宽(FWHM):分析透射带宽度(典型值5-20nm)3.峰值透过率:测试最大透射率(≥90%@指定波长)4.截止深度:评估阻带区域衰减能力(OD≥4@截止区)5.温度稳定性:验证-40℃至+85℃环境下的波长漂移(≤0.02nm/℃)6.表面质量:依据ISO10110-7标准检测划痕/麻点等级7.环境耐久性:湿热试验(85℃/85%RH,240h)后的性能保持率

检测范围

1.带通滤光片:用于荧光显微镜的光谱分离元件2.长通/短通滤光片:生物医学成像系统的背景噪声抑制器件3.中性密度滤光片:激光功率调节用衰减元件4.激光防护滤光片:工业激光加工设备的防护组件5.红外滤光片:热成像系统的光谱调制器件6.二向色滤光片:流式细胞仪的光束分光元件

检测方法

1.ASTME275:紫外-可见-近红外分光光度计校准规范2.ISO9211-4:光学镀膜环境耐久性测试方法3.GB/T26331-2010:光学薄膜元件通用技术条件4.ISO14997:光学元件表面缺陷检验方法5.GB/T13384-2008:光学零件环境试验方法6.MIL-STD-810G:军用设备环境适应性测试标准7.DIN58197-6:光学元件光谱特性测量规程

检测设备

1.OceanOpticsHR4000高分辨率光谱仪(波长范围200-1100nm)2.AgilentCary7000全能型分光光度计(精度0.08nm)3.NewportOrielCS130B恒温试验箱(温控精度0.5℃)4.ZygoVerifire干涉仪(面形精度λ/20PV)5.PerkinElmerLambda1050+紫外可见近红外分光光度计6.BrukerContourGT-K光学轮廓仪(纵向分辨率0.1nm)7.SpectrogonRS系列旋转支架系统(角度定位精度0.1)8.LabsphereLMS-7600积分球系统(直径150mm)9.ThorlabsPAX1000偏光分析仪(消光比测量范围60dB)10.EspecPL-3KJ恒温恒湿箱(温湿度波动度0.5℃/2%RH)

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

光匹配滤光器检测
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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