反斯托克线检测
检测项目
反斯托克/斯托克峰强度比测定(范围:0.01-10,分辨率0.001)
拉曼频移精度校准(检测范围:100-4000 cm⁻¹,误差±0.5 cm⁻¹)
温度依赖特性分析(温控范围:-196℃至600℃,梯度±1℃)
偏振敏感性检测(偏振角0-360°,步进精度0.1°)
时间分辨光谱采集(时间分辨率:10 ps-1 s,动态范围80 dB)
检测范围
宽禁带半导体材料(GaN、SiC、AlN单晶)
有机-无机杂化钙钛矿薄膜(MAPbI₃、FAPbBr₃)
高分子共聚物(PMMA-PS嵌段共聚物)
二维过渡金属硫族化合物(MoS₂、WS₂单层)
生物医用陶瓷(羟基磷灰石/β-磷酸三钙复合材料)
检测方法
ASTM E1840-21:拉曼光谱法测定材料相变温度
ISO 20310:2018:纳米材料晶格振动模式表征规范
GB/T 36065-2018:拉曼光谱法检测石墨烯层数
ISO 21475:2019:聚合物分子链取向度测定方法
GB/T 39144-2020:半导体材料缺陷密度测试规程
检测设备
Renishaw inVia Qontor:共聚焦显微拉曼系统,配备785/532/633 nm三波长激光源
Horiba LabRAM HR Evolution:高分辨率光谱仪(0.35 cm⁻¹光谱分辨率)
Linkam THMS600:变温样品台(-196℃至600℃,控温精度±0.1℃)
Princeton Instruments PIXIS 400BR:背照式CCD探测器(量子效率>90%@800 nm)
Bruker Vertex 80v:真空傅里叶变换红外光谱仪(用于同步IR验证)
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。