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圆后洒检测仪器

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文章概述:1. 粒度分析仪:用于检测圆后洒的颗粒大小分布情况。该仪器可以通过分析样品中的颗粒尺寸和形状参数来评估颗粒物料的物理性质。
2. X射线荧光光谱仪:用于检测圆后洒中的各种化

1. 粒度分析仪:用于检测圆后洒的颗粒大小分布情况。该仪器可以通过分析样品中的颗粒尺寸和形状参数来评估颗粒物料的物理性质。

2. X射线荧光光谱仪:用于检测圆后洒中的各种化学成分。该仪器通过将样品置于X射线束下,然后测量样品荧光产生的能量和强度,从而分析出样品中的元素含量。

3. 热分析仪:用于检测圆后洒的热性能。该仪器可以测量样品在升温或降温过程中的热容、热导率、热膨胀系数等热性能参数,从而评估样品的热稳定性和热传导性。

4. 红外光谱仪:用于检测圆后洒的红外光谱特性。该仪器可以测量样品对红外辐射的吸收、散射和透射情况,从而分析出样品中的官能团、化学键类型等信息。

5. 扫描电子显微镜:用于检测圆后洒的形貌和微观结构。该仪器可以通过扫描样品表面并测量电子信号的变化来获得样品的形貌、粒径分布、表面形态等信息。

圆后洒检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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