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无损探伤法检测方法

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文章概述:射线探伤法:利用 X 射线或γ射线穿透工件,检测内部缺陷。
超声探伤法:通过超声波在工件中的传播和反射,检测缺陷。
磁粉探伤法:利用磁粉在缺陷处的吸附,检测表面和近表面缺陷。

射线探伤法:利用 X 射线或γ射线穿透工件,检测内部缺陷。

超声探伤法:通过超声波在工件中的传播和反射,检测缺陷。

磁粉探伤法:利用磁粉在缺陷处的吸附,检测表面和近表面缺陷。

渗透探伤法:借助渗透剂在缺陷处的渗透,检测表面开口缺陷。

涡流探伤法:利用涡流在工件中的变化,检测表面和近表面缺陷。

无损探伤法检测方法
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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