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文章概述：X 射线衍射仪：通过分析晶体结构来确定位错线的存在和特征。
扫描电子显微镜：可以直接观察位错线的形态和分布。
原子力显微镜：用于测量位错线的高度和表面形貌。
透射电子显微
X 射线衍射仪：通过分析晶体结构来确定位错线的存在和特征。
扫描电子显微镜：可以直接观察位错线的形态和分布。
原子力显微镜：用于测量位错线的高度和表面形貌。
透射电子显微镜：能够提供高分辨率的位错线图像。
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