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文章概述：X 射线衍射仪：通过对材料进行 X 射线衍射分析，确定晶体结构和位错等缺陷。
电子显微镜：包括透射电子显微镜（TEM）和扫描电子显微镜（SEM），可用于观察材料的微观结构和位错形态。
原子
X 射线衍射仪：通过对材料进行 X 射线衍射分析，确定晶体结构和位错等缺陷。
电子显微镜：包括透射电子显微镜（TEM）和扫描电子显微镜（SEM），可用于观察材料的微观结构和位错形态。
原子力显微镜（AFM）：可以提供高分辨率的表面形貌图像，有助于检测位错割阶。
光学显微镜：在某些情况下，可用于初步观察位错割阶。
