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文章概述：X 射线衍射法：通过分析晶体的衍射图谱，确定位错的存在和类型。
电子显微镜法：直接观察位错的形态和分布。
原子力显微镜法：用于检测表面位错。
电阻率测量法：位错会影响材料的电
X 射线衍射法：通过分析晶体的衍射图谱，确定位错的存在和类型。
电子显微镜法：直接观察位错的形态和分布。
原子力显微镜法：用于检测表面位错。
电阻率测量法：位错会影响材料的电阻率，通过测量电阻率的变化来检测位错。
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