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文章概述：光学显微镜观察：可用于检测位错的存在和大致形状。
电子显微镜观察：能提供更详细的位错结构信息。
X 射线衍射分析：确定晶体结构和位错密度。
扫描探针显微镜：用于表面位错的检
光学显微镜观察：可用于检测位错的存在和大致形状。
电子显微镜观察：能提供更详细的位错结构信息。
X 射线衍射分析：确定晶体结构和位错密度。
扫描探针显微镜：用于表面位错的检测和分析。
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