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微英寸检测范围

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文章概述:微英寸检测主要用于测量非常微小的尺寸和厚度,常用于电子、半导体、航空航天等领域。常见的微英寸检测对象包括但不限于:电子元件:如芯片、电路板等。半导体器件:如晶体管、集成

微英寸检测主要用于测量非常微小的尺寸和厚度,常用于电子、半导体、航空航天等领域。

常见的微英寸检测对象包括但不限于:

电子元件:如芯片、电路板等。

半导体器件:如晶体管、集成电路等。

薄膜材料:如金属薄膜、绝缘薄膜等。

涂层:如防护涂层、光学涂层等。

微小零件:如微型螺丝、螺母等。

光学元件:如透镜、反射镜等。

金属表面:如镀层、氧化层等。

微英寸检测范围
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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