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锗片检测仪器

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文章概述:1. 锗片耐压测试仪
该仪器用于测试锗片的耐压性能。它能够施加高压电流到锗片上,以检测锗片的绝缘性能和耐压强度。

2. 锗片表面粗糙度检测仪
该仪器用于测量锗片表面的粗糙

1. 锗片耐压测试仪

该仪器用于测试锗片的耐压性能。它能够施加高压电流到锗片上,以检测锗片的绝缘性能和耐压强度。

2. 锗片表面粗糙度检测仪

该仪器用于测量锗片表面的粗糙度。它可以通过扫描锗片表面,并利用传感器读取锗片表面的高度变化,从而确定锗片的表面粗糙度。

3. 锗片表面平整度测试仪

该仪器用于测量锗片表面的平整度。它可以通过扫描锗片表面,并利用传感器读取锗片表面的高度变化,从而确定锗片的平整度。

4. 锗片掺杂浓度测试仪

该仪器用于测量锗片中的掺杂浓度。它可以通过施加电流到锗片上,并测量电流的变化,从而确定锗片中的掺杂浓度。

5. 锗片光吸收率测试仪

该仪器用于测量锗片的光吸收率。它可以通过传输光束通过锗片,并测量透过率,从而确定锗片对光的吸收率。

锗片检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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