检测项目

1. 灵敏度检测：测量靶面照度0.1-1000 lx范围内输出电流变化率（±3%精度）

2. 暗电流测试：在10^-5 Pa真空环境下测定无光照时残余电流值（≤1 nA）

3. 光谱响应范围：扫描400-1100 nm波段量子效率曲线（步长5 nm）

4. 分辨率验证：采用ISO 12233测试卡评估极限空间分辨率（单位：lp/mm）

5. 滞后特性分析：输入光强阶跃变化时响应时间测定（上升/下降时间≤20 ms）

检测范围

1. 硫化铅（PbS）红外摄像管：工作波段1-3 μm

2. 硒化镉（CdSe）可见光摄像管：光谱响应400-700 nm

3. 氧化铅（PbO）彩色摄像管：三基色分离度≥95%

4. 非晶硅（a-Si）X射线摄像管：探测效率≥65%@60 keV

5. 碲化汞镉（HgCdTe）低温摄像管：工作温度77K条件下暗电流抑制

检测方法

1. ISO 9039:2016《光学系统分辨力测试方法》用于MTF曲线测量

2. GB/T 13584-2011《红外探测器参数测试方法》规范D*值计算

3. ASTM E2599-22《光电探测器线性度校准标准》控制非线性误差≤1%

4. IEC 60747-5-3:2020《光电子器件光电参数测试流程》

5. GB/T 18901.2-2013《图像传感器光电性能试验方法》规定动态范围测试条件

检测设备

1. OL Series 770光谱响应测试系统：波长精度±0.2 nm，配备积分球光源

2. Keithley 6517B静电计：最小电流测量10 fA，支持多通道同步采集

3. Image Engineering IE-SFR Pro分辨率分析仪：符合ISO 12233:2017标准

4. Thermo Scientific ESCALAB Xi+表面分析仪：用于靶面材料能谱分析

5. Agilent B1500A半导体参数分析仪：IV/CV特性曲线测量精度0.1%

6. VACCO VMS-1900真空测试舱：极限真空度5×10^-7 Torr

7. Fluke Ti450红外热像仪：温度分辨率0.03℃@30℃工作温升监测

8. Labsphere LMS-7600均匀光源系统：输出不均匀性＜±1%

9. Tektronix DPO7254示波器：带宽2.5 GHz支持瞬态响应分析

10. ESPEC SH-642恒温恒湿箱：温度范围-70℃~+180℃（±0.5℃）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。