检测项目

1.膜层厚度：测量范围0.1nm-10μm，精度0.05nm（椭圆偏振法）

2.折射率与消光系数：波长覆盖190-2500nm（分光光度法）

3.附着力强度：划痕法临界载荷1-100N（纳米压痕仪）

4.表面粗糙度：Ra值0.1-50nm（原子力显微镜）

5.透光率/反射率：光谱范围300-2000nm（积分球系统）

检测范围

1.光学功能薄膜：AR减反射膜、IR截止滤光片

2.半导体介质层：SiO₂绝缘膜、SiN钝化层

3.光伏组件膜系：ITO导电膜、PERC电池Al₂O₃层

4.柔性显示基材：PET/CPI硬化涂层

5.真空镀膜器件：磁控溅射Al膜、电子束蒸发TiO₂膜

检测方法

1.ASTME903-20：材料太阳光吸收比测试规范

2.ISO14703:2022：薄膜厚度X射线反射法

3.GB/T29595-2013：地面用光伏组件涂层测试通则

4.ISO20502:2021：陶瓷涂层附着力划痕试验法

5.GB/T38256-2019：光学功能薄膜雾度测定方法

检测设备

1.J.A.WoollamM-2000D型椭偏仪：宽光谱膜厚/光学常数分析

2.BrukerDimensionIcon原子力显微镜：纳米级表面形貌表征

3.ShimadzuUV-3600iPlus分光光度计：紫外-近红外透反射测试

4.CSMInstrumentsRevetest划痕仪：动态载荷附着力评估

5.ZeissSmartproof5共聚焦显微镜：三维表面粗糙度测量

6.ThermoScientificK-AlphaXPS：表面元素化学态分析

7.Agilent5500AFM/STM联用系统：原子级分辨率成像

8.VeecoDektakXTL台阶仪：微米级膜厚轮廓测量

9.MalvernPanalyticalEmpyreanXRD：晶体结构分析

10.KeysightB1500A半导体分析仪：介电特性测试

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。