检测项目

1. 噪声等效温差（NETD）：≤50 mK@25℃/f/1.0

2. 响应率：≥5×10^8 V/W@8-14μm波段

3. 响应时间：≤15 ms@阶跃信号输入

4. 工作波段范围：8-14μm波长透过率≥85%

5. 像元均匀性：≤5%全阵列标准差

检测范围

1. 氧化钒（VOx）微测辐射热计阵列

2. 非晶硅（a-Si）红外焦平面探测器

3. 热电堆型红外传感器组件

4. 碲镉汞（HgCdTe）薄膜器件

5. 量子阱红外光电探测器（QWIP）

检测方法

ASTM E1213-2014：红外焦平面阵列响应率测试规范

ISO 18554-2017：非制冷探测器NETD测量方法

GB/T 13584-2019：红外成像系统通用规范

GB/T 26253-2010：红外探测器噪声测试规程

IEC 62607-3-1:2020：纳米制造器件可靠性评估

检测设备

FLIR A700红外热像仪：用于NETD与温度分辨率测试

Agilent 4156C半导体参数分析仪：电流-电压特性曲线测量

Labsphere LMS-7600黑体辐射源：提供标准红外辐射场

Bruker Vertex 80v傅里叶光谱仪：光谱响应特性分析

Tektronix DPO7054示波器：瞬态响应时间测量

Thermo Scientific ESCALAB Xi+ XPS：材料表面成分分析

Keithley 2636B源表：暗电流与阻抗特性测试

Optronic Laboratories OL750单色仪：波长标定系统

Espec PL-3KFP恒温恒湿箱：环境适应性试验装置

Bruker Contour Elite台阶仪：微结构形貌表征设备

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。