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计算机控制的三坐标量仪检测

因您的需求、实验方案、检测样品、测试过程不同,相应的参考标准请咨询在线工程师!

文章概述:计算机控制的三坐标量仪是一种高精度几何量测量设备,通过三维坐标系对工件尺寸、形状及位置公差进行非接触或接触式检测。其核心应用包括复杂曲面分析、精密部件质量控制及逆向工程数据采集,需严格遵循ISO10360系列标准进行设备校准与误差补偿。本文系统阐述其检测项目、适用材料范围、标准化方法及主流设备选型。

检测项目

1. 几何尺寸测量:包括长度(±0.5μm)、直径(φ0.1-500mm)、角度(±2")等基础参数

2. 形位公差分析:平面度(0.005-0.02mm)、圆度(0.003-0.01mm)、同轴度(≤0.015mm)

3. 曲面轮廓比对:自由曲面偏差(±5μm/m²),基于CAD模型进行3D轮廓扫描

4. 位置关系验证:孔间距(±1μm)、轴线垂直度(≤0.01mm/100mm)

5. 动态特性测试:重复定位精度(≤0.8μm),扫描速度(10-500mm/s)下的轨迹精度

检测范围

1. 精密机械零件:齿轮箱体、液压阀块等铸铁/合金钢部件

2. 模具制造:注塑模/压铸模型腔曲面(HRC45-60淬火钢)

3. 航空航天部件:钛合金叶片(表面粗糙度Ra0.4)、铝合金框架

4. 汽车零部件:发动机缸体(CT6级精度)、变速箱壳体

5. 电子元件:PCB定位孔(±5μm)、连接器PIN针阵列

检测方法

1. ISO 10360-2:2021 规定长度测量最大允许误差(MPEE)验证方法

2. ASTM E3064-23 定义多探针系统空间精度校准流程

3. GB/T 16857.2-2020 规范尺寸测量不确定度评定要求

4. VDI/VDE 2617-2019 制定扫描模式下的动态误差补偿方案

5. ASME B89.4.1-2022 确立温度补偿算法(20±0.5℃环境控制)

检测设备

1. Zeiss CONTURA G2:配备VAST XT gold扫描探头,测量范围700×1000×700mm

2. Hexagon LEITZ PMM-C:超高精度机型(MPEE=0.6+L/600μm),花岗岩基座结构

3. Mitutoyo CRYSTA-Apex S:搭载MH20i测头系统,支持五轴联动测量

4. Wenzel LH系列:桥式结构设计,最大行程4000×2500×1500mm

5. Nikon LC15Dx:激光扫描型三坐标,点云采集速率10000点/秒

6. Aberlink AXIOM:便携式三坐标量仪(IP54防护等级),适用于车间现场

7. Coord3 AKURA:配备RDS-CAA双旋转测头,实现复杂内腔测量

8. Werth ScopeCheck:光学复合式系统,支持非接触式轮廓扫描

9. DEA Global Silver:温度补偿模块集成(±0.1℃分辨率)

10. LK Metrology ALTERA:配备Renishaw REVO五轴测头系统

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

计算机控制的三坐标量仪检测
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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