检测项目

1.波长精度验证：测量范围200-2500nm，允许偏差0.2nm（可见光波段）2.光谱分辨率测试：最小可分辨谱线间隔≤0.1nm（FWHM法）3.动态线性度评估：在10^4量级动态范围内非线性误差＜1%4.信噪比测定：基线噪声RMS值≤0.0005Abs（500nm基准）5.温度稳定性试验：在20-40℃范围内波长漂移量＜0.05nm/℃

检测范围

1.光学薄膜器件：包括增透膜、分光膜等镀层产品的透过率曲线分析2.半导体材料：GaAs、InP等III-V族化合物的能带结构测试3.荧光标记物：量子点、稀土掺杂材料的发射光谱表征4.环境监测组件：大气污染物吸收池的光谱响应验证5.金属纳米颗粒：表面等离子体共振（SPR）峰位测定

检测方法

1.ASTME275-08(2017)：分光光度计性能验证标准方法2.ISO19285:2016：光学元件光谱特性实验室间比对规程3.GB/T13323-2009：单色仪及分光光度计检定规程4.ISO12005:2003：激光辐射的光束参数测量方法5.GB/T32212-2015：荧光分光光度计性能测试方法

检测设备

1.ThermoScientificEvolution220：双光束紫外可见分光光度计，波长精度0.08nm2.AgilentCary7000UMA：全波段光谱响应测试系统（250-2500nm）3.HoribaFluorolog-QM：稳态/瞬态荧光光谱仪，时间分辨率达0.1ns4.BrukerVERTEX80v：真空型傅里叶变换红外光谱仪，分辨率0.06cm⁻5.OceanInsightQEPro-F：光纤耦合微型光谱仪，积分时间10ms-10min可调6.ShimadzuUV-3600iPlus：三探测器分光系统（InGaAs/PbS/PMT）7.PerkinElmerLambda1050+：双单色器设计杂散光＜0.00007%T8.JASCOV-770：紧凑型紫外可见近红外分光光度计（190-2700nm）9.EdinburghInstrumentsFS5：荧光寿命成像系统（TCSPC技术）10.AvantesAvaSpec-ULS2048CL-EVO：高速USB3.0光谱仪（200-1100nm）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。